keywords:"SIOS" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"SIOS"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

Národní úložiště šedé literatury	Nalezeno 2 záznamů.	Hledání trvalo 0.00 vteřin.

Stanovení nejistoty měření nano-CMM
Brlica, Pavel ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tématem této diplomové práce je problematika stanovení nejistoty měření nano-CMM, konkrétně přístroje SIOS NMM-1. Teoretická část práce obsahuje definici základních pojmů z oblasti nejistoty měření, popis přístupů ke stanovení nejistoty měření CMM a rozdíly mezi klasickými CMM a nano-CMM. Pro výpočet nejistoty měření nano-CMM jsou vybrány a upraveny dvě metody – substituční a simulační metoda Monte Carlo. Ty jsou aplikovány v praktické části pro výpočet nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1. Součástí praktické části je provedení měření na přístroji v laboratoři na Českém metrologickém institutu v Brně. Výstupem práce je tedy stanovení nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1.

Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English